依據(jù)

GB/T 2423.22-2012《環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化》

GB/T 2423.4-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db： 交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）》

GB/T 2423.3-2016 《環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)》

GB/T 2423.1-2008《試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法》

GB/T 2423.2-2008《試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》

等國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)對(duì)相關(guān)電子產(chǎn)品進(jìn)行可靠性與環(huán)境試驗(yàn)。